相控陣探傷儀是一種用于物理學(xué)、材料科學(xué)、產(chǎn)品應(yīng)用相關(guān)工程與技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測試儀器。它通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。

 

　　該設(shè)備可以實現(xiàn)對鋼、鋁等金屬、非金屬材料工件的相控陣無損檢測，以及對工件內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行評價，實時記錄檢測數(shù)據(jù)。

 

　　技術(shù)優(yōu)勢：

　　1、實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；

　　2、相控陣技術(shù)可以實現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動態(tài)深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準(zhǔn)；

　　3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現(xiàn)其它常規(guī)檢測技術(shù)所不能實現(xiàn)的功能，如對復(fù)雜工件檢測；

　　4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；

　　5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環(huán)境無污染；

　　6、檢測結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作。

　　7、可以節(jié)省許多成本費用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報告到數(shù)據(jù)中心查閱。